扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描

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PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。

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MP30系列三目偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户做单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。可广泛应用于地质、化工、制药等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高

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JEM-1400是120kV分析型透射电子显微镜，配备高衬度极靴，可以在任何倍率下得到高衬度，高质量图象，适合生物样品的测试。

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用于生物学、细菌学、组织学、药物化学等研究工作以及临床度验之用。具有粗微动同轴的调焦机构，滚珠内定位转换器，亮度可调的照明装置。

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可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。

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电生理实验理想的无震动平台，适合进行膜片钳、脑片和活体观察等实验。革命性的无震动设计理念使这款显微镜具备了无与伦比的系统稳定性，出色的红外成像系统也是其显著的特点之一，它同样是奥林巴斯共聚焦系统的显微镜平台。BX51WI为手动显微镜，BX61WI为电动显微镜。

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蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。

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JSM-7600F热场发射扫描电子显微镜兼顾高分辨和200nA的大束流,同时配备减速模式和能量过滤器,适合多功能分析.

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S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s

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